УДК 681.325.5

Закономерности деградации
светоизлучающих диодов

Викулин И. М., Ирха В. И., Коробицын Б. В., Горбачев В. Э.

Ключевые слова: светодиод, деградация, приработка, отбраковка.

Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на продолжительность срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных светоизлучающих диодов в производстве. Индивидуальный срок службы каждого светоизлучающего диода из данной партии определяется по двум измеренным значениям яркости с помощью эталонного графика, который строится по результатам испытаний относительно небольшого количества изделий.

Украина, Одесская национальная академия связи им. А. С. Попова

***

Legitimacies of a degradation of light-emitting diodes

Vikulin I. М., Irkha V. I., Korobitsyn B. V., Gorbachev V. E.

The method of testing of phosphide-gallium light-emitting diodes on duration of life expectancy, considerably cutting time of a rejection of accident-sensitive light-emitting diodes in production is proposed. The individual life expectancy of each light-emitting diode from a sectional batch is defined on two measured values of luminosity with the help of the reference diagram, which is created by results of trials concerning small amount of hardware products.