УДК 621.315.592

Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов

Павлюк С. П., Ищук Л. В., Кислицын В. М.

Ключевые слова: тепловое поле, диод, диагностика, рекомбинация.

Обоснована возможность использования инфракрасного излучения полупроводников для экспресс-диагностики качества полу­проводниковых диодных кристаллов. Разработан метод разделения рекомбинационной и тепловой составляющей излучения разогретого диодного кристалла. Показана возможность подбора режима пайки диодного кристалла, при котором он разогревается однородно, по его излучению.

Украина, г. Киев, Киевский национальный университет им. Тараса Шевченко, Институт электросварки им. Е. О. Патона.

***

Express-method of semiconductor diode crystal quality diagnostics

Pavljuk S. P., Ishchuk L. V., Kislitsyn V. M.

The possibility of using of the IR radiation from semiconductor for an express-diagnostics of the semiconductor diode quality was reasoned. The method of separation of the recombination and thermal radiaton components from the heated diod crystal was developed. We showed the possibility of selection of the diod crystal soldering conditions when the crystal surface was heated homogeneously using diod thermal radiation.